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    • 讲讲nxp的芯片
      • 芯片特点 电源模块设计完善 dcdc ldo
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    • arm soc芯片架构
      • 常见的模块的测量方法
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    • 工艺角 ff/ss 温度/电压 做哪些测试 功耗比对 dcdc trim // 极限工作频率 高
    • 静态功耗测试 leakage 反偏 二极管反偏
    • 测试时间优化 测试项优化/流程优化/并行度
    • 是否参与到lb的设计有哪些注意点 schanmatic
    • 测试计划注意点 问题解决 删减 owner nv/lv/ 温度 --> 标准 word 93k 数值1 txt sttf->excel
    • 数据收集 // jump工具
    • 良率分析
    • 良率优化 良率提升
      • 举两个例子说明一下
      • 测试方法错误 serdes 良率不稳定 16次8次平均值 limit设置合理 cpk值
  • 整体

    • 英文水平 全英环境
    • 小公司和大公司不同的地方
    • 现在的公司可以覆盖nxp的哪些流程 哪些做得不好,你的进入改变了哪些
    • 小公司的测试开展
  • ai帮你解决了哪些问题

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